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帶你了解四(sì)探針測試(shì)儀

文章出(chū)處:http://jiuwo.cc   作者:濟南邦悅艾碼有限公司    人氣:1039 發表時(shí)間:2019-06-13
數(shù)字式四探(tàn)針測試儀是運用四(sì)探針測量(liàng)原理的多用(yòng)途綜合(hé)測量設備。該儀(yí)器按照單晶矽物理測試方法(fǎ)國家标(biāo)準并參(cān)考美(měi)國 a.s.t.m 标(biāo)準
而(ér)設計的,專用于(yú)測試半導體材料電(diàn)阻(zǔ)率(lǜ)及方(fāng)塊電(diàn)阻(薄(báo)層電(diàn)阻)的專
用儀器(qì)。儀器(qì)由主(zhǔ)機、測試台(tái)、四探針探頭、計算機等部(bù)分組(zǔ)成,測
量數(shù)據(jù)既可由主機直接(jiē)顯示,亦可(kě)由計算機(jī)控制測試采集測試(shì)數據到(dào)
計算機中加(jiā)以分(fèn)析,然(rán)後以(yǐ)表格(gé),圖形(xíng)方式(shì)統計分析(xī)顯示測試結果
本儀器适用于(yú)半導(dǎo)體材料廠(chǎng)、半導體器件廠(chǎng)、科研單位、高等(děng)院校(xiào)對半導體(tǐ)材料的電(diàn)阻性(xìng)能(néng)測試。
四探針(zhēn)軟件測試系統(tǒng)是一(yī)個(gè)運行在(zài)計算機上擁有(yǒu)友好(hǎo)測(cè)試界面(miàn)的用戶程序,通(tōng)過此(cǐ)測試(shì)程序(xù)輔助(zhù)使用戶簡便地進行各項(xiàng)測試及獲(huò)得測(cè)試數(shù)據并(bìng)對測(cè)試數據進行(háng)統計分(fèn)析。
測試程(chéng)序控(kòng)制四(sì)探針測試儀(yí)進(jìn)行測(cè)量并(bìng)采集(jí)測試(shì)數據,把采集到(dào)的數據在計算機中(zhōng)加(jiā)以分析(xī),然後(hòu)把(bǎ)測試數(shù)據(jù)以表格,圖形(xíng)直觀地記錄、顯示出來(lái)。用戶可(kě)對采集到的數據在電(diàn)腦(nǎo)中保(bǎo)存或者(zhě)打印以(yǐ)備日後參(cān)考和(hé)查看,還可(kě)以把(bǎ)采集(jí)到的(de)數據輸出(chū)到excel中,讓用(yòng)戶對(duì)數據進行(háng)各種數據分析(xī)


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